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200–2200nm 全波段光纖光譜儀|ATP9200 跨波段反射率測(cè)試系統(tǒng)詳解

點(diǎn)擊次數(shù):336  更新時(shí)間:2026-04-15

在材料表征、光學(xué)器件檢測(cè)、新能源研發(fā)、涂層與薄膜分析等場(chǎng)景中,從紫外到短波紅外的寬波段反射率測(cè)量,一直是高精度實(shí)驗(yàn)的核心需求。

單一光譜儀往往只能覆蓋有限波段,想要同時(shí)拿到紫外?可見(jiàn)?近紅外的完整反射曲線,往往需要多套設(shè)備、多次校準(zhǔn)、數(shù)據(jù)拼接繁瑣,還容易出現(xiàn)基線漂移、波段不連貫、信噪比不足等問(wèn)題。



應(yīng)用簡(jiǎn)介

一束光照射到樣品表面,能量會(huì)分成三部分:

反射:光被表面彈回來(lái)(我們要測(cè)的就是它)

吸收:光被材料內(nèi)部吸收,變成熱量

透射:光穿過(guò)物體,從另一面出去

根據(jù)能量守恒:反射率 R + 吸收率 A + 透射率 T = 100%

對(duì)于不透明材料(T≈0),就簡(jiǎn)化為:反射率 R + 吸收率 A ≈ 100%反射越強(qiáng),吸收越弱;反射越弱,吸收越強(qiáng)。

中考物理知識(shí)點(diǎn):鏡面反射和漫反射_光的反射_中考網(wǎng)

圖1.鏡面反射和漫反射圖解


測(cè)量反射率,必須先區(qū)分兩種反射模式:

1. 鏡面反射(Specular Reflection)

發(fā)生在光滑、平整、光亮表面

例如:鏡子、光學(xué)鏡片、鍍膜、拋光金屬

特點(diǎn):入射角 = 反射角,光朝一個(gè)方向反射

測(cè)量:需要按角度接收,否則測(cè)不準(zhǔn)

2. 漫反射(Diffuse Reflection)

發(fā)生在粗糙、粉末、啞光、布料、涂料、紙張、塑料等表面

特點(diǎn):光被散射到所有方向,沒(méi)有固定反射角

測(cè)量:必須用積分球收集全方向的反射光

在實(shí)際測(cè)試中,絕大多數(shù)樣品都是鏡面反射 + 漫反射同時(shí)存在,因此專(zhuān)業(yè)系統(tǒng)都會(huì)用積分球統(tǒng)一測(cè)量,保證結(jié)果準(zhǔn)確。


應(yīng)用實(shí)例


一、光學(xué)薄膜 / 增透膜 / 高反膜 / 濾光片研發(fā)與質(zhì)檢

光學(xué)薄膜是現(xiàn)代光學(xué)系統(tǒng)的核心,而反射率是判斷膜層是否合格的第一指標(biāo)。在鏡頭、激光鏡片、AR/VR 鏡片、窗口片、濾光片、分光片的生產(chǎn)與研發(fā)中,必須通過(guò)反射率曲線判斷膜層厚度、折射率、應(yīng)力、均勻性是否達(dá)標(biāo)。

增透膜(AR):要求在可見(jiàn)光或紅外波段反射率盡可能低,通常目標(biāo)<1%,以提升透光率、減少眩光與鬼影。

高反膜(HR):要求在特定波段反射率>95% 甚至 99%,用于激光腔、反射鏡、能量回收結(jié)構(gòu)。

帶通濾光片:反射率曲線必須呈現(xiàn)明顯的截止邊,用于篩選特定波長(zhǎng)通過(guò)或反射。


二、光伏材料:反光膜、光伏背板、電池片、反光涂層

太陽(yáng)能電池的發(fā)電效率,高度依賴(lài)紅外波段的光捕獲與反射利用。在光伏產(chǎn)業(yè),反射率是衡量反光膜、光伏背板、鋁漿、反光涂層性能的關(guān)鍵指標(biāo)。

光伏背板:需要在 900–1700nm 紅外波段保持高反射,把穿透電池片的紅外光反射回去二次利用,提升整體輸出功率。

反光涂層:用于光伏組件、聚光光伏、溫室透光材料,反射率越高,光利用率越高。

電池片表面:通過(guò)反射率判斷絨面結(jié)構(gòu)、鍍膜質(zhì)量、鈍化效果是否達(dá)標(biāo)。

行業(yè)常見(jiàn)要求:1000–1700nm 平均反射率>85%。


三、涂料、油墨、顏料、紡織品:顏色、色差、耐候、老化

涂料、顏料、染料、布料、皮革的顏色本質(zhì)就是不同波長(zhǎng)的反射率差異。反射率曲線相當(dāng)于材料的 “顏色指紋",可用于配色、色差判定、耐候測(cè)試、老化評(píng)估。

白色涂料 :400–700nm 可見(jiàn)光反射率接近 95%,白度越高反射曲線越平坦。

啞光材料:全波段反射率極低,通常<5%。

耐候性測(cè)試:通過(guò)加速老化前后反射率變化,判斷是否褪色、粉化、黃變。

紡織品色差:布料、紗線、印染品的反射率一致性直接決定批次穩(wěn)定性。


四、顯示與玻璃行業(yè):防眩光、低反射、高透玻璃

手機(jī)屏幕、車(chē)載顯示屏、車(chē)窗玻璃、光學(xué)玻璃、護(hù)眼面板的觀感與清晰度,由反射率直接決定。

低反玻璃 :要求可見(jiàn)光反射率<0.5%,避免強(qiáng)光下反光刺眼。

鍍膜玻璃:通過(guò)紅外波段反射率控制隔熱性能,反射越高越隔熱。

蓋板玻璃:反射率曲線直接影響屏幕亮度、對(duì)比度、可視角度。

在顯示行業(yè),反射率是衡量防眩光、抗反射、高通透效果的最直觀數(shù)據(jù)。


五、粉末、顆粒、多孔材料:漫反射成分與品質(zhì)分析

催化劑、陶瓷、粉末冶金、糧食、土壤、化工原料大多是松散、粗糙、不透明的樣品,只能通過(guò)漫反射進(jìn)行分析。

催化劑:漫反射率與活性組分、負(fù)載量、比表面積相關(guān),可判斷催化性能。

陶瓷 :反射率反映燒結(jié)程度、致密度、雜質(zhì)含量。

粉末冶金:反射率可用于粒度、氧化程度、純度判定。

土壤 :近紅外反射率與含水率、有機(jī)質(zhì)、金屬元素相關(guān)。


六、金屬、拋光件、鍍層:表面質(zhì)量與氧化程度判定

拋光金屬、電鍍件、陽(yáng)極氧化件、不銹鋼、鋁合金的表面光潔度、鍍層質(zhì)量、氧化程度,都會(huì)直接體現(xiàn)在反射率曲線上。

拋光越好:反射率越高,曲線越平滑,噪聲越小。

氧化 :反射率明顯下降,曲線出現(xiàn)不規(guī)則波動(dòng)。

劃痕 :局部反射突變,可用于表面缺陷判定。

鍍層質(zhì)量:反射率一致性反映電鍍均勻性、膜厚穩(wěn)定性。

在精密制造、五金、3C 產(chǎn)品外殼、汽車(chē)零部件質(zhì)檢中,反射率可作為非接觸、無(wú)損、快速的表面質(zhì)量判定手段,高效替代人工目視檢查。


七、紙張、包裝、薄膜、醫(yī)用材料:白度與均勻性檢測(cè)

在包裝、印刷、醫(yī)用耗材、功能薄膜行業(yè),白度、透光、反射均勻性是關(guān)鍵品質(zhì)項(xiàng)。

高白度紙張:可見(jiàn)光反射率越高,白度等級(jí)越高。

涂布紙:反射率反映涂布量、均勻性、吸墨性。

功能薄膜:反射率可判斷霧度、表面處理、防霧效果。

醫(yī)用耗材 :反射率用于外觀判定、成分均勻性、包衣質(zhì)量。


八、食品、農(nóng)產(chǎn)品、中藥材:快速無(wú)損品質(zhì)篩查

近紅外波段反射率與食品內(nèi)部成分高度相關(guān),無(wú)需制樣、無(wú)需試劑、無(wú)損快速,是現(xiàn)代快檢的重要方向。

糧食 :反射率與水分、蛋白、脂肪、淀粉相關(guān)。

水果 :近紅外反射變化反映糖度、成熟度、含水率。

中藥材:反射光譜可用于真?zhèn)舞b別、產(chǎn)地溯源、成分判斷。

海產(chǎn)品:反射率反映新鮮度、脂肪含量、解凍狀態(tài)。




產(chǎn)品推薦

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圖2.測(cè)試設(shè)備圖示

1. 光源

【ATG1020H光源介紹】 

奧譜天成的ATG1020H氘鹵組合燈光源,采用日本濱松公司的氘燈燈泡,可以產(chǎn)生穩(wěn) 定的180-400nm的輸出光譜。 鹵鎢燈采用歐司朗生產(chǎn)的長(zhǎng)壽命、高穩(wěn)定性燈泡,使用壽 命長(zhǎng)達(dá)5000小時(shí);采用自主設(shè)計(jì)的高可靠性恒流驅(qū)動(dòng)電流。ATG1020H還具有壽命長(zhǎng)、 光衰小、輸出功率大等特點(diǎn),可廣泛應(yīng)用于傳統(tǒng)桌面型光譜儀器及現(xiàn)場(chǎng)便攜式微型光譜儀器。ATG1020氘燈光源可以加裝比色皿支架,可以直接進(jìn)行比色皿或者濾光片的透射 吸收測(cè)試。 

光源的基本操作步驟:

 l、使用12V電源適配器連接光源,打開(kāi)電源開(kāi)關(guān); 2、啟動(dòng)光源,預(yù)熱 10 分鐘,以達(dá)到穩(wěn)定狀態(tài); 3、光纖與光源連接后,可通過(guò)開(kāi)關(guān)單獨(dú)啟動(dòng)氘燈或鹵燈;

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圖3.ATG1020H

2. 反射率積分球

【反射率積分球介紹】

反射率積分球由PTFE材料發(fā)泡制成,可涵蓋紫外到近紅外光譜的范圍,積分球在光譜區(qū)間內(nèi)具有較高的反射率、出色的熱穩(wěn)定性和化學(xué)穩(wěn)定性,極少出現(xiàn)發(fā)黃和掉粉的情況。該球體采用氧化鋁材料,其內(nèi)膽直徑達(dá)到38mm,樣品口直徑為9.5mm,同時(shí)還配備了一個(gè)固定支架,以便于進(jìn)行測(cè)試操作。該反射率積分球設(shè)有三個(gè)開(kāi)口,其一為入光口,用于連接光源,入光口前端配置有準(zhǔn)直鏡,與法線呈8°入射;其二為出光口,垂直于法線輸出,用以連接光譜儀,進(jìn)出光口均為通用的SMA905光纖接口;其三為樣品口,用于放置樣品測(cè)試。

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圖4.反射率積分球


3. 漫反射標(biāo)準(zhǔn)白板

【漫反射標(biāo)準(zhǔn)白板介紹】

出光口漫反射標(biāo)準(zhǔn)白板是一種高反射率的參考材料,用于校準(zhǔn)和驗(yàn)證光學(xué)測(cè)量設(shè)備(如分光光度計(jì)和光譜儀)。這些白板提供一個(gè)已知的反射基準(zhǔn),用于對(duì)比和校正測(cè)量結(jié)果,確保準(zhǔn)確性和一致性。奧譜天成提供的漫反射標(biāo)準(zhǔn)白板產(chǎn)品采用PTFE材料高溫加工成型,具有防水功能,適用于紫外到近紅外 寬光譜譜段,反射比值最高可達(dá)99%,尺寸為80×80mm。該漫反射標(biāo)準(zhǔn)白板能夠配合光譜儀和光源,適用于測(cè)試各種樣品的反射率。

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圖5.漫反射率白板


4. 光纖光譜儀

4.1 紫外可見(jiàn)波段

【ATP6500科研級(jí)高靈敏度光纖光譜儀介紹】

ATP6500是奧譜天成研制的超高性能制冷型微型光纖光譜儀,是性能的王&者,它采用1044 x 64像素的制冷型背照式線性CCD,該CCD具有最大的動(dòng)態(tài)范圍,并采用了半導(dǎo)體制冷技術(shù),降低了工作時(shí)的暗電流,CCD可工作在設(shè)定的恒溫環(huán)境(最&低可達(dá)-15℃),從而大幅降低了傳感器的噪聲,獲得了極&佳的信噪比(比同類(lèi)競(jìng)爭(zhēng)對(duì)手提高了約2倍),而且提高了ATP6500的測(cè)量可靠性,測(cè)量結(jié)果不隨環(huán)境溫度變化。

同時(shí),奧譜天成為ATP6500特別定制了超低噪聲CCD信號(hào)處理電路,其量化噪聲小于5 counts,為業(yè)界最佳水平。ATP6500可接收SMA905光纖輸入光或者自由空間光,通過(guò)USB2.0或者UART端口,輸出測(cè)量所得的光譜數(shù)據(jù)。ATP6500只需要一個(gè)5V直流電源供電,非常便于集成使用。


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圖6.ATP6500


4. 2 近紅外波段

【ATP8200高靈敏度短波紅外 光纖光譜儀介紹】

ATP8200 是奧譜天成在廣受海內(nèi)外市場(chǎng)青睞的ATP8000 基礎(chǔ)上,精心研發(fā)的新一代近紅外微型光纖光譜儀。儀器搭載了全新設(shè)計(jì)的光學(xué)平臺(tái)與信號(hào)處理電路,實(shí)現(xiàn)了更高的信號(hào)靈敏度和光譜分辨率,其最大工作范圍可拓展至 900-2200nm,且可根據(jù)實(shí)際需求進(jìn)行定制。它采用了先進(jìn)的制冷型 InGaAs 線陣探測(cè)器,運(yùn)用半導(dǎo)體制冷技術(shù),能夠在設(shè)定的恒溫環(huán)境(最&低可達(dá)- 30℃)中穩(wěn)定工作,從而顯著降低了傳感器噪聲,獲得了極&佳的信噪比,較同類(lèi)競(jìng)品高出約 2 倍,大幅提升了ATP8200 的測(cè)量可靠性,確保測(cè)量結(jié)果不受環(huán)境溫度變化的影響,始終保持精準(zhǔn)穩(wěn)定。

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圖7.ATP8200


5. 集成后的寬波段光纖光譜儀系統(tǒng)(ATP9200)

ATP9200系列寬波段光纖光譜波長(zhǎng)范圍最寬可達(dá)200nm-2200nm,適用于物理、光電、材料、生物等各領(lǐng)域應(yīng)用。 ATP9200系列寬波段光纖光譜儀采用不同波段的多臺(tái)光譜儀進(jìn)行組合,形成超寬波段的光譜儀,同時(shí)又具備較好的光譜分辨率,具有性?xún)r(jià)比高,測(cè)量快速、準(zhǔn)確,操作簡(jiǎn)單,攜帶方便等特點(diǎn),配有功能強(qiáng)大的軟件包,除了測(cè)量光譜信號(hào)外,還可以用于反射率、透射率測(cè)量,也可用作輻射度學(xué),光度學(xué)和色度學(xué)測(cè)量。 ATP9200可以接收外部的采集觸發(fā)信號(hào),進(jìn)行同步光信號(hào)采集。ATP9200也可以根據(jù)客戶(hù)的不同需求進(jìn)行波段范圍,光譜儀組合等進(jìn)行定制。

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圖7.ATP9200


測(cè)試方案

3

相對(duì)反射率測(cè)量法

核心邏輯:

用一塊反射率已知、非常穩(wěn)定、接近 100% 的標(biāo)準(zhǔn)白板作為參考基準(zhǔn)。先測(cè)白板 → 再測(cè)樣品 → 軟件自動(dòng)算比值 → 得到真實(shí)反射率。

公式

樣品反射率 R (λ) = (樣品信號(hào) / 白板信號(hào)) × 白板標(biāo)準(zhǔn)反射率

  • 樣品信號(hào):測(cè)樣品時(shí)光譜儀讀到的光強(qiáng)

  • 白板信號(hào):測(cè)標(biāo)準(zhǔn)白板時(shí)讀到的光強(qiáng)

  • 白板標(biāo)準(zhǔn)反射率:出廠標(biāo)定值(通常 99% 左右)


完整測(cè)量流程

第 1 步:暗背景校準(zhǔn)

  • 關(guān)閉光源

  • 擋住入射光

  • 采集光譜儀自身噪聲

  • 軟件自動(dòng)扣除,保證基線為 0

第 2 步:標(biāo)準(zhǔn)白板校準(zhǔn)

  • 放上標(biāo)準(zhǔn)漫反射白板(反射率已知)

  • 采集白板的反射光譜

輸入白板反射率

第 3 步:樣品測(cè)量

  • 放上被測(cè)樣品

  • 采集樣品的反射光譜

  • 軟件自動(dòng)計(jì)算:R = 樣品光強(qiáng) ÷ 白板光強(qiáng) ×白板反射率

第 4 步:輸出結(jié)果

得到一條反射率 — 波長(zhǎng)曲線橫軸:波長(zhǎng) (nm)縱軸:反射率 (%)



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奧譜天成提供全面且可靠的光譜分析儀器,包括ATP系列光纖光譜儀、ATR系列拉曼光譜儀、IR紅外光譜儀、ATF熒光光譜儀等系列產(chǎn)品,滿足各類(lèi)檢測(cè)應(yīng)用需求。


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